Development of a Universal Platform for Hardware In-the-Loop Testing of Microgrids

Wang, Jing; Song, Yulun; Li, Wendong; Guo, Li; Monti, Antonello

New York, NY : IEEE (2014)
Fachzeitschriftenartikel

In: IEEE transactions on industrial informatics
Band: 10
Heft: 4
Seite(n)/Artikel-Nr.: 2154-2165

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